Centro
ESCUELA DE INGENIERIA INFORMATICA (VA)
Capítulos de libro (3) Publicacións nas que participase algún/ha investigador/a
2012
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Electrical Characterization of High-K Dielectric Gates for Microelectronic Devices
Dielectric Material
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Monitorización de controladores predictivos
Actas de las XXXIII Jornadas de Automática: Vigo, 5 al 7 de Septiembre de 2012 (Universidade de Vigo)
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Monitorización de estados transitorios mediante el análisis de componentes principales
Actas de las XXXIII Jornadas de Automática: Vigo, 5 al 7 de Septiembre de 2012 (Universidade de Vigo)