Detección de defectos superficiales mediante el procesamiento de interferogramas de holografía conoscópica
- ENGUITA GONZALEZ, JOSE MARIA
- Ignacio Álvarez García Director
Defence university: Universidad de Oviedo
Fecha de defensa: 28 February 2003
- Guillermo Ojea Merín Chair
- Alberto Benjamín Díez González Secretary
- Daniel Fernando García Martínez Committee member
- José Ramón Perán González Committee member
- Luis Javier de Miguel González Committee member
Type: Thesis
Abstract
La Hologradía Conoscópica es una novedosa tecnología de medida sin contacto de alta precisión que, desde su nacimiento, se ha mostrado como una técnica de gran futuro en este campo, ofreciendo mediciones de alta precisión con montajes sencillos y aplicables en ambientes adversos o geometrías complejas. La Holografía Conoscópica es una técnica interferométrica similar a la Holografía convencional, pero reemplazando la interferencia de los rayos de objeto y referencia por la de los dos rayos, ordinario y extraordinario, en que la luz polarizada monocromática es dividida cuando atraviesa un cristal birrefringente. Dado que los rayos que interfieren provienen del mismo rayo inicial la coherencia especial de los mismos viene obligada, por lo que esta Holografía permite utilizar una iluminación con luz incoherente. El resultado en el detector es un patrón de franjas que lleva la información de distancia en la frecuencia y fase de las mismas. Esta tecnología ha sido aplicada con éxito en numerosas aplicaciones, destacando las relacionadas con el control de calidad dimensional en ámbitos industriales. Desde hace años, el Área de Ingeniería de Sistemas y Automática de la Universidad de Oviedo viene trabajando junto con la empresa Optimet, propietaria de la patente de la tecnología, en el desarrollo de un sensor de prestaciones industriales basado en Holografía Conoscópica. El diseño requiere la realización de mediciones de una línea (perfilómetro) con alta precisión y desde larga distancia, para su aplicación en entornos adversos. Como resultado de esta investigación, se dispone en la actualidad de varios prototipos de medida llamados Long-Standoff Line, que ofrecen resoluciones por debajo de una décima de milímetro trabajando desde distancias de hasta 1200 mm. Estos prototipos han sido aplicados con éxito a diversos problemas de control de calidad industrial, alguno de ellos no resuelto hasta la fecha con