Caracterización estructural de talcos por DRX, IR y RAMAN mediante análisis de Fourier de los perfiles de banda

  1. Fernando Rull Pérez
  2. J. Medina 1
  3. A.C. Prieto 1
  4. J. M. Alia 2
  1. 1 Área de Cristalografía y Mineralogía. Facultad de Ciencias. Valladolid.
  2. 2 Dpto. de Química Física. Universidad de Castilla-La Mancha. Ciudad Real.
Revista:
Boletín de la Sociedad Española de Mineralogía

ISSN: 0210-6558

Año de publicación: 1991

Volumen: 14

Número: 1

Páginas: 46-46

Tipo: Artículo

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