Raman microprobe analysis of chemically revealed extended defects in GaAs
- Jimenez, J.
- Martin, E.
- Carmelo Prieto, A.
- Torres, A.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology
ISSN: 0268-1242
Datum der Publikation: 1992
Ausgabe: 7
Nummer: 1 A
Art: Artikel