Atomistic modeling of amorphization and recrystallization in silicon

  1. Pelaz, L.
  2. Marqués, L.A.
  3. Aboy, M.
  4. Barbolla, J.
  5. Gilmer, G.H.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 82

Nummer: 13

Seiten: 2038-2040

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.1564296 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus