Laser diode reliability: Crystal defects and degradation modes

  1. Jiménez, J.
Revista:
Comptes Rendus Physique

ISSN: 1631-0705

Año de publicación: 2003

Volumen: 4

Número: 6

Páginas: 663-673

Tipo: Estudio Breve

DOI: 10.1016/S1631-0705(03)00097-5 GOOGLE SCHOLAR