Simulation analysis of boron pocket deactivation in NMOS transistors with SPER junctions

  1. Aboy, M.
  2. Marqués, L.A.
  3. López, P.
  4. Santos, I.
  5. Barbolla, J.
  6. Duffy, R.
  7. L. Pelaz
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Año de publicación: 2005

Volumen: 2005

Páginas: 451-454

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504479 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus