Atomistic analysis of annealing behavior of amorphous regions

  1. López, P.
  2. Pelaz, L.
  3. Marques, L.A.
  4. Santos, I.
  5. Aboy, M.
  6. Barbolla, J.
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings

ISBN: 9780780388109

Año de publicación: 2005

Volumen: 2005

Páginas: 427-430

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/SCED.2005.1504472 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus