UV Raman spectroscopy of group IV nanocrystals embedded in a SiO 2 matrix

  1. Prieto, A.C.
  2. Torres, A.
  3. Jiménez, J.
  4. Rodríguez, A.
  5. Sangrador, J.
  6. Rodríguez, T.
Revista:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics

ISSN: 0957-4522,  1573-482X

Año de publicación: 2008

Volumen: 19

Número: 2

Páginas: 155-159

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1007/S10854-007-9304-7 GOOGLE SCHOLAR
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