Reference traces by simulation for tracking control-logic

  1. Trujillo, J.
  2. Pawlewsky, P.
  3. Pasek, Z.J.
Actes de conférence:
ETFA 2009 - 2009 IEEE Conference on Emerging Technologies and Factory Automation

ISBN: 9781424427284

Année de publication: 2009

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/ETFA.2009.5347091 GOOGLE SCHOLAR

Objectifs de Développement Durable

La source de données: Scopus