Modeling of defects, dopant diffusion and clustering in silicon

  1. Aboy, M.
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Revista:
Journal of Computational Electronics

ISSN: 1572-8137,  1569-8025

Año de publicación: 2014

Volumen: 13

Número: 1

Páginas: 40-58

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10825-013-0512-5 GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor

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