Internal degradation of 980nm emitting single-spatial-mode lasers during ultrahigh power operation

  1. Tomm, J.W.
  2. Hempel, M.
  3. Elsaesser, T.
  4. Jimenez, J.
  5. Hortelano, V.
  6. Bettiati, M.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

ISBN: 9780819498786

Año de publicación: 2014

Volumen: 8965

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.2036082 GOOGLE SCHOLAR
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