Evidence of chlorine ion penetration in InP/InAsP quantum well structures during dry etching processes and effects of induced-defects on the electronic and structural behaviour

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2015

Volumen: 55

Número: 9-10

Páginas: 1750-1753

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2015.07.029 GOOGLE SCHOLAR