Picometer and attosecond resolution measurements from mid-IR driven electron recollision

  1. Biegert, J.
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  3. Cousin, S.L.
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  6. Sidiropoulos, T.
  7. Rivas, D.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X 0277-786X

ISBN: 9781510617162

Año de publicación: 2018

Volumen: 10606

Páginas: 55

Tipo: Aportación congreso