MicroRaman and phase stepping microscopy analysis of growth defects in GaAs/GaAs epilayers

  1. Mártín, P.
  2. Ramos, J.
  3. Jiménez, J.
  4. Sanz, L.F.
  5. González, M.A.
Revista:
Materials Science and Technology

ISSN: 0267-0836

Año de publicación: 1998

Volumen: 14

Número: 12

Páginas: 1286-1290

Tipo: Artículo

DOI: 10.1179/MST.1998.14.12.1286 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus