MicroRaman study of bulk inclusions in SiC crystals

  1. Martín, E.
  2. Chafai, M.
  3. Antón, R.
  4. Torres, A.
  5. Jiménez, J.
Revista:
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology

ISSN: 0921-5107

Año de publicación: 2001

Volumen: 80

Número: 1-3

Páginas: 366-369

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0921-5107(00)00603-6 GOOGLE SCHOLAR
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