Local channel temperature measurements on pseudomorphic high electron mobility transistors by photoluminescence spectroscopy

  1. Landesman, J.P.
  2. Martin, E.
  3. Depret, B.
  4. Fily, A.
  5. Braun, P.
Actas:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 1998

Volumen: 516

Páginas: 45-50

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1557/PROC-516-45 GOOGLE SCHOLAR
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