MicroRaman characterization of microdefects in bulk SiC

  1. Martin, E.
  2. Chafai, M.
  3. Jimenez, J.
Actas:
Materials Research Society Symposium - Proceedings

ISSN: 0272-9172

Año de publicación: 1997

Volumen: 483

Páginas: 241-246

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1557/PROC-483-241 GOOGLE SCHOLAR
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