Identification of Extended Defect Atomic Configurations in Silicon Through Transmission Electron Microscopy Image Simulation

  1. Santos, I.
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Revista:
Journal of Electronic Materials

ISSN: 0361-5235

Año de publicación: 2018

Volumen: 47

Número: 9

Páginas: 4955-4958

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1007/S11664-018-6140-X GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor

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