Empirical Characterization of ReRAM Devices Using Memory Maps and a Dynamic Route Map

  1. Picos, R.
  2. Stavrinides, S.G.
  3. Chawa, M.M.A.
  4. Benito, C.
  5. Dueñas, S.
  6. Castan, H.
  7. Hatzikraniotis, E.
  8. Chua, L.O.
Revista:
Electronics (Switzerland)

ISSN: 2079-9292

Any de publicació: 2022

Volum: 11

Número: 11

Tipus: Article

DOI: 10.3390/ELECTRONICS11111672 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus