Influence of the temperature and the light intensity on the metastable transformation of EL2

  1. Alvarez, A
  2. Jimenez, J
  3. Gonzalez, M
  4. Chafai, M
Colección de libros:
DEFECTS IN ELECTRONIC MATERIALS II
  1. Michel, J (coord.)
  2. Kennedy, T (coord.)
  3. Wada, K (coord.)
  4. Thonke, K (coord.)

ISSN: 0272-9172

ISBN: 1-55899-346-0

Año de publicación: 1997

Volumen: 442

Páginas: 429-434

Congreso: Symposium on Defects in Electronic Materials II, at the Combined Meeting of the Materials-Research-Society / International Conference on Electronic Materials

Tipo: Aportación congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS