Four current examples of characterization of silicon carbide
- Bai, S.
- Ke, Y.
- Shishkin, Y.
- Shigiltchoff, O.
- Devaty, R.P.
- Choyke, W.J.
- Strauch, D.
- Stojetz, B.
- Dorner, B.
- Hobgood, D.
- Serrano, J.
- Cardona, M.
- Nagasawa, H.
- Kimoto, T.
- Porter, L.M.
ISSN: 0272-9172
Año de publicación: 2002
Volumen: 742
Páginas: 151-162
Tipo: Aportación congreso