Probing resonant tunneling and charge accumulation via capacitance measurements in [111]-oriented InGaAs/GaAs MQW and superlattices

  1. Sánchez-Rojas, J.L.
  2. Sacedón, A.
  3. Sanz-Hervás, A.
  4. Calleja, E.
  5. Muñoz, E.
  6. Abril, E.J.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 1996

Ausgabe: 40

Nummer: 1-8

Seiten: 591-595

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0038-1101(95)00338-X GOOGLE SCHOLAR

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