Probing resonant tunneling and charge accumulation via capacitance measurements in [111]-oriented InGaAs/GaAs MQW and superlattices

  1. Sánchez-Rojas, J.L.
  2. Sacedón, A.
  3. Sanz-Hervás, A.
  4. Calleja, E.
  5. Muñoz, E.
  6. Abril, E.J.
Aldizkaria:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Argitalpen urtea: 1996

Alea: 40

Zenbakia: 1-8

Orrialdeak: 591-595

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0038-1101(95)00338-X GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus