Effect of interlayer trapping and detrapping on the determination of interface state densities on high-k dielectric stacks
- Castán, H.
- Dueñas, S.
- García, H.
- Gómez, A.
- Bailón, L.
- Toledano-Luque, M.
- Del Prado, A.
- Mártil, I.
- González-Díaz, G.
Zeitschrift:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Datum der Publikation: 2010
Ausgabe: 107
Nummer: 11
Art: Artikel