Effect of interlayer trapping and detrapping on the determination of interface state densities on high-k dielectric stacks
- Castán, H.
- Dueñas, S.
- García, H.
- Gómez, A.
- Bailón, L.
- Toledano-Luque, M.
- Del Prado, A.
- Mártil, I.
- González-Díaz, G.
Revue:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Année de publication: 2010
Volumen: 107
Número: 11
Type: Article