Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos
- Rodríguez Maestre, Ismael
- José Luís Molina Félix Zuzendaria
Defentsa unibertsitatea: Universidad de Sevilla
Defentsa urtea: 2000
- Ramón Velázquez Vila Presidentea
- Juan Manuel Amaya Recio Idazkaria
- Servando Alvarez Domínguez Kidea
- Francisco Javier Rey Martínez Kidea
- José Manuel Pinazo Ojer Kidea
Mota: Tesia
Laburpena
En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.