Modelo óptico y térmico de acristalamientos complejos
- Rodríguez Maestre, Ismael
- José Luís Molina Félix Directeur/trice
Université de défendre: Universidad de Sevilla
Année de défendre: 2000
- Ramón Velázquez Vila President
- Juan Manuel Amaya Recio Secrétaire
- Servando Alvarez Domínguez Rapporteur
- Francisco Javier Rey Martínez Rapporteur
- José Manuel Pinazo Ojer Rapporteur
Type: Thèses
Résumé
En ciertos acristalamientos se depositan pequeñas capas de material conductivo (oro o plata) o dieléctrico (dióxidos o sulfuros), el orden de decenas de nanometros, para modificar sus propiedades ópticas. En este trabajos e desarrolla una metodología para la obtención de las constantes ótpicas espectrales (índice de refracción y coeficiente de extinción) de estas películas delgadas, así como de su espesor, mediante la utilización de las propeidades espectrales a incidencia normal (transmisividad y reflectividades). En este proceso de caracterización permitirá obtener éstas propiedades para diferentes ángulos de incidencia. Con este fin, se presentan los procesos de caracterización de vidrios monolíticos y de dispositivos de sombras.