Caracterización óptica de capas de GaAs/Si crecidas por epitaxia lateral dirigida

  1. Ardila Vargas, Angel Miguel
Dirigida por:
  1. Óscar Martínez Sacristán Director

Universidad de defensa: Universidad de Valladolid

Año de defensa: 2002

Departamento:
  1. Física de la Materia Condensada, Cristalografía y Mineralogía

Tipo: Tesis

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