Caracterizacion de centros profundos en semiconductores por la tecnica cc-dlos

  1. VILANOVA SOMOZA, JESUS

Universitat de defensa: Universidad de Valladolid

Any de defensa: 1989

Tribunal:
  1. Pedro Cartujo Estebanez President/a
  2. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Secretari/ària
  3. Luis A. Bailón Vega Vocal
  4. Martín Jaráiz Vocal

Tipus: Tesi

Teseo: 22804 DIALNET