Caracterizacion de centros profundos en semiconductores por la tecnica cc-dlos

  1. VILANOVA SOMOZA, JESUS

Université de défendre: Universidad de Valladolid

Année de défendre: 1989

Jury:
  1. Pedro Cartujo Estebanez President
  2. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Secrétaire
  3. Luis A. Bailón Vega Rapporteur
  4. Martín Jaráiz Rapporteur

Type: Thèses

Teseo: 22804 DIALNET