Raman microprobe analysis of chemically revealed extended defects in GaAs
- Jimenez, J.
- Martin, E.
- Carmelo Prieto, A.
- Torres, A.
Revista:
Semiconductor Science and Technology
ISSN: 0268-1242
Año de publicación: 1992
Volumen: 7
Número: 1 A
Tipo: Artículo