Characterisation of semiconductor structures by high resolution X-ray diffraction
- Sanz-Hervás, A.
- Abril, E.J.
- Paz, D.I.
- de Benito, G.
- Llorente, C.
- Aguilar, M.
- López, M.
ISSN: 1743-2847, 0267-0836
Datum der Publikation: 1995
Ausgabe: 11
Nummer: 1
Seiten: 72-79
Art: Artikel