Avalanche breakdown of high-voltage p-n junctions of SiC

  1. Pelaz, L.
  2. Orantes, J.L.
  3. Vicente, J.
  4. Bailón, L.
  5. Barbolla, J.
Zeitschrift:
Microelectronics Journal

ISSN: 0026-2692

Datum der Publikation: 1996

Ausgabe: 27

Nummer: 1

Seiten: 43-51

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0026-2692(95)00056-9 GOOGLE SCHOLAR
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