MicroRaman and Hall effect study of n-type bulk 4H-SiC
- Chafai, M.
- Jiménez, J.
- Martin, E.
- Mitchel, W.C.
- Saxler, A.
- Perrin, R.
Konferenzberichte:
Materials Science Forum
ISSN: 0255-5476
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 338
Art: Artikel