Atomistic analysis of the ion beam induced defect evolution
ISSN: 0168-583X
Ano de publicación: 2004
Volume: 216
Número: 1-4
Páxinas: 100-104
Tipo: Achega congreso
ISSN: 0168-583X
Ano de publicación: 2004
Volume: 216
Número: 1-4
Páxinas: 100-104
Tipo: Achega congreso