From point defects to dislocation loops: A comprehensive modelling framework for self-interstitial defects in silicon

  1. Martin-Bragado, I.
  2. Avci, I.
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  5. Castrillo, P.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2008

Volumen: 52

Número: 9

Páginas: 1430-1436

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2008.04.027 GOOGLE SCHOLAR
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