Reference traces by simulation for tracking control-logic

  1. Trujillo, J.
  2. Pawlewsky, P.
  3. Pasek, Z.J.
Actas:
ETFA 2009 - 2009 IEEE Conference on Emerging Technologies and Factory Automation

ISBN: 9781424427284

Año de publicación: 2009

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/ETFA.2009.5347091 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus