Atomistic analysis of B clustering and mobility degradation in highly B-doped junctions
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Ano de publicación: 2010
Volume: 23
Número: 4-5
Páxinas: 266-284
Tipo: Achega congreso
ISSN: 0894-3370, 1099-1204
Ano de publicación: 2010
Volume: 23
Número: 4-5
Páxinas: 266-284
Tipo: Achega congreso