A spectrum image cathodoluminescence study of dislocations in Si-doped liquid-encapsulated czochralski GaAs crystals

  1. González, M.A.
  2. Martínez, O.
  3. Jiménez, J.
  4. Frigeri, C.
  5. Weyher, J.L.
Revista:
Journal of Electronic Materials

ISSN: 0361-5235

Año de publicación: 2010

Volumen: 39

Número: 6

Páginas: 781-786

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S11664-010-1108-5 GOOGLE SCHOLAR
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