Electrical and optical characterization of extended defects in silicon mono-cast material

  1. Moralejo, B.
  2. Tejero, A.
  3. Hortelano, V.
  4. Martínez, O.
  5. Jiménez, J.
  6. Parra, V.
Revista:
Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

ISSN: 1862-6351,  1610-1642

Año de publicación: 2012

Volumen: 9

Número: 10-11

Páginas: 2158-2163

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/PSSC.201200248 GOOGLE SCHOLAR
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