Influence of different surface treatments on multicrystalline silicon wafers for defect characterization by LBIC

  1. Domínguez, J.
  2. Mass, J.
  3. Moralejo, B.
  4. Martínez, O.
  5. Jiménez, J.
  6. Ardila, A.M.
  7. Parra, V.
Revista:
Journal of Materials Science

ISSN: 0022-2461 1573-4803

Año de publicación: 2012

Volumen: 47

Número: 14

Páginas: 5470-5476

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10853-012-6437-8 GOOGLE SCHOLAR