Influence of different surface treatments on multicrystalline silicon wafers for defect characterization by LBIC

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Revista:
Journal of Materials Science

ISSN: 0022-2461,  1573-4803

Año de publicación: 2012

Volumen: 47

Número: 14

Páginas: 5470-5476

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10853-012-6437-8 GOOGLE SCHOLAR

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