Raman study of multicrystalline silicon wafers produced by the RST process

  1. Tejero, A.
  2. Tupin, E.
  3. González, M.A.
  4. Martínez, O.
  5. Jiménez, J.
  6. Belouet, C.
  7. Baillis, C.
Revista:
Acta Physica Polonica A

ISSN: 1898-794X,  0587-4246

Año de publicación: 2014

Volumen: 125

Número: 4

Páginas: 1006-1009

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.12693/APHYSPOLA.125.1006 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

Proyectos relacionados

ESTUDIO ÓPTICO Y ELÉCTRICO DE DEFECTOS EN CÉLULAS SOLARES DE SILICIO MULTICRISTALINO Y SU RELACIÓN CON LA EFICIENCIA DE LAS MISMAS

2011/00185/001

Fuente de los datos: Scopus