Apparent temperature verses true temperature of silicon crystals as a function of their thickness using infrared measurements

  1. Smither, R.K.
  2. Fernandez, P.B.
Revista:
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A

ISSN: 0168-9002

Año de publicación: 1994

Volumen: 347

Número: 1-3

Páginas: 640-643

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0168-9002(94)91963-1 GOOGLE SCHOLAR
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