Atomistic simulations of ion implantation and diffusion

  1. Gilmer, G.H.
  2. Pelaz, L.
  3. Jaraiz, M.
  4. Gossmann, H.-J.
  5. Rafferty, C.S.
Actas:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD

Año de publicación: 1999

Páginas: 43-46

Tipo: Aportación congreso