Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization

  1. Dueñas, S.
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  3. Vicente, J.
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Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1987

Volumen: 61

Número: 7

Páginas: 2541-2545

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.337930 GOOGLE SCHOLAR

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