Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization

  1. Dueñas, S.
  2. Jaraiz, M.
  3. Vicente, J.
  4. Rubio, E.
  5. Bailón, L.
  6. Barbolla, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1987

Volumen: 61

Número: 7

Páginas: 2541-2545

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.337930 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus