Trapping activity on multicrystalline Si wafers studied by combining fast PL imaging and high resolved electrical techniques

  1. Martinez, O.
  2. Moralejo, B.
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  4. Tejero, A.
  5. Gonzalez, M.A.
  6. Jimenez, J.
  7. Mass, J.
  8. Parra, V.
Actas:
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2013

ISBN: 9781467346689

Año de publicación: 2013

Páginas: 361-364

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2013.6481417 GOOGLE SCHOLAR

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