Thermomechanical degradation of single and multiple quantum well AlGaAs/GaAs laser diodes

  1. Souto, J.
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Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 76-77

Seiten: 588-591

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.07.005 GOOGLE SCHOLAR lock_openUVADOC editor

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