Catastrophic optical damage of high power InGaAs/AlGaAs laser diodes
- Souto, J.
- Pura, J.L.
- Torres, A.
- Jiménez, J.
- Bettiati, M.
- Laruelle, F.J.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714
Datum der Publikation: 2016
Ausgabe: 64
Seiten: 627-630
Art: Artikel