Effect of Dielectric Thickness on Resistive Switching Polarity in TiN/Ti/HfO2/Pt Stacks

  1. Vinuesa, G.
  2. García, H.
  3. González, M.B.
  4. Kalam, K.
  5. Zabala, M.
  6. Tarre, A.
  7. Kukli, K.
  8. Tamm, A.
  9. Campabadal, F.
  10. Jiménez, J.
  11. Castán, H.
  12. Dueñas, S.
Revista:
Electronics (Switzerland)

ISSN: 2079-9292

Any de publicació: 2022

Volum: 11

Número: 3

Tipus: Article

DOI: 10.3390/ELECTRONICS11030479 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus